PRODUCT CENTER

产品中心

我的位置:首页  >  产品中心   >  全新无损检测   >  无损检测
机制砂粒度粒形分析仪
型号:KLXM-Pro

KLXM-Pro​机制砂粒度粒形分析仪采用自由落体+超声分散模式,能够对10~10000微米范围内的干样机制砂颗粒进行实时采集、分析机制砂颗粒图像粒度分布、长径比、圆形度形貌分布等参数检测。

在线咨询 客服在线解答,为您解决遇到的问题!
产品中心
PRODUCT CENTER
详细介绍

产品介绍:

KLXM-Pro机制砂粒度粒形分析仪采用自由落体+超声分散模式,能够对10~10000微米范围内的干样机制砂颗粒进行实时采集、分析机制砂颗粒图像粒度分布、长径比、圆形度形貌分布等参数检测,仪器满足《Q-CR865-2022铁路混凝土用机制砂》标准、ISO13322-2:2021粒度分析.图像分析方法.第2部分:动态图像分析方法标准和GB/T21649.2-2025粒度分析图像分析法第2部分:动态图像分析法标准。

测量原理:

图1测量光路原理图


KLXM-Pro机制砂粒度粒形分析仪测量系统光路系统采用平行光源(远心光路)配合远心镜头组合,通过振动送料器将机制砂颗粒均匀输送落料口,机制砂颗粒通过自由落体分散的方式,经过测量光路区域,配合高速工业相机,实时捕捉下落机制砂颗粒图像, 测量原理如图1所示。颗粒图像通过数字图像处理软件,计算分析捕捉到的每个颗粒的清晰图像,将颗粒图像转变成二值化图像,以获得颗粒投影面积S、投影周长及投影小外接矩形的长b和宽a,计算颗粒的面积等效直径、圆度、长径比等粒度粒形参数,颗粒数字图像二值化处理结果如下图2所示。远心光路系统具有高对比度的轮廓。远心光路降低了物体的漫反射,从而提高了颗粒边缘对比度和测量准确度。


图2 颗粒数字图像二值化处理结果示意图


技术参数:

  • 测试量程:10-10000μm
  • 准确性误差:≤1%(标样D50偏差)
  • 重复性误差:≤1%(标样D50偏差)
  • 成像元件:2/3英寸
  • 摄像系统:分辨率2448*2048 帧率 24帧/S
  • 成像镜头:远心镜头
  • 放大倍率:0.3-1倍
  • 成像光源:高亮平行白光源
  • 下料方式:电磁振动、255级速度可调
  • 分散方式:超声波,功率>50W
  • 分析颗粒数量 > 1000000个/min
  • 分析报告:粒径大小筛分分析报告、圆形度分析报告、长径比分析报告。



输出参数:

  • 表头信息:样品牌号、样品来源、样品批号、样品规格、检测时间。
  • 粒度粒形平均参数:体积平均粒径、球形度范围、长径比范围、重量比表面积、球形度、平均值、颗粒数量、长径比平均值。
  • 粒度区间占比:粒度分布区间占比。
  • 粒度典型值:D10、D50、D90常规典型值参数,自定义典型值参数。
  • 粒度分布图和粒度分布数据表。
  • 圆度分布图和圆度分布数据表。
  • 长径比分布图和长径比分布数据表。







订货编号:LR-100952